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TEM-FAST48
 ■解析 |
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TECHNICAL SPECIFICATION
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TEM-FAST 48と井戸の電気検層データとの比較 |
井戸近傍における測点の信号強度(V/A) |
ある井戸の近傍において、TEM-FAST測定を行い、この井戸の電気検層結果と比較しました。この時のループの大きさは50m×50mにしています。
送電線と電話線が約10m離れたところにありましたが、データの品質は極めて良好で上図のような滑らかな信号強度を得ることができました。
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信号強度から見掛比抵抗曲線に変換し、４層構造解析（下図）とボスティック解析の両者を行ったところ、右図のように電気検層結果と非常に整合性のある結果を得ました（ただし、電気検層データは、地下38m以浅がありません）。
４層構造解析結果
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電気検層、
４層構造解析結果、
ボスティック解析結果 |
このようにTEM-FASTで取得したデータは信頼性が高いことを確信できました。
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TEM-FAST 48によるMT法データのスタティックシフト補正 |
電場を測定するMT法は、浅部地下構造の ３次元性や地形の影響によりスタティック効果を受け、見掛比抵抗がシフトしてしまい、実際の比抵抗構造を示していない場合が多々あります。この現象をスタティックシフトと呼び、補正する方法としては、電場を測定せずに磁場のみを測定するTEM法データを利用することが最も効果的であることがわかっています。
TEM-FAST信号強度(V/A) |
この例は、MT法データのスタティックシフト 補正を目的として、MT法と同一測点においてTEM-FASTによるTEM法データを取得した結果です。今回は、７５ｍ×７５ｍのループを設置しました。
左図信号強度は、ばらつきが無くてエラーバーもほとんど見えないほど小さく、高品質なデータであることがわかります。 |
TEM-FAST４層構造解析結果
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このTEM-FAST生データを見掛比抵抗曲線に変換し、４層構造解析した結果が左図になります。
このTEM法から解析された浅部構造をMT法の浅部構造として理論曲線を計算し、マージしたものが下図になります。見掛比抵抗曲線は、MT法のYXモードとつながっており、XYモードがスタティックシフトをしていたことが判明いたしました。
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MT法データとTEM法データのマージ結果
このようにTEM-FASTで取得したデータは、MT法と非常に調和しており浅部構造を良く反映していることを確信できました。
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